IR Stripe I型红外探伤仪-宁波阿贝尼红外技术有限公司

IR Stripe I型红外探伤仪

更新：2019-3-23 10:17:31 点击：

品牌： abney
型号： IR Stripe I型

产品介绍

◎产品介绍

IR Stripe I型红外探伤仪是宁波光之瞳光电科技有限公司自主设计开发的透红外材料内部探伤测试系统。对晶元、硅片、滤光片、红外玻璃等质量，包括体内的条纹、气孔、裂纹、分相、析晶进行全面检测。

原理

基于红外光线的透射、吸收等物理性质，采用红外光源和红外探测器等光学设备对对晶元、硅片、滤光片、红外玻璃等内部的条纹、气孔、裂纹、分相、析晶进行分析。

晶元、硅片、滤光片、红外玻璃等等透红外材料对于红外光线而言是透明介质，如果内部存在条纹、气孔、裂纹、分相、析晶等缺陷，这些缺陷对红外光线有吸收、反射、散射左右，导致红外射线的损失，利用红外探测器检测透过这些材料的红外光线，分析红外光损失，可以实现对透红外材料体内的条纹、气孔、裂纹、分相、析晶灯缺陷进行分析及，以便对其进行产品等级分类管理。

结构

IR Stripe I型红外探伤仪主要有红外光源，平移样品台，红外探测器构成。红外光线透射过放置在平移样品台上的透红外材料，由红外探测器检测透过该材料的红外线强度。材料内部缺陷对红外线有吸收、反射、散射作用，导致红外射线的损失，通过图像上的明暗差异，可藉此确定该材料的内部缺陷。

◎产品特点

◆系统操作简单、便捷

◆高分辨率红外CCD探测器

◆材料检测尺寸（mm）18×50，可以手动平移检测尺寸70×50

◆可调红外光源光强，提高缺陷识别分辨率

◆StripeViewer软件能够自动计算均匀度方差值，帮助分析产品等级

◆高版本StripeViewer软件增加具有物料管理功能

◎性能参数

◆波长0.4um-1.8um

◆测试缺陷：条纹、气孔、裂纹、分相、析晶